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干涉仪是一种利用干涉原理进行测量的精密仪器，其工作过程与工作原理如下：
干涉仪的工作原理主要基于光的波动性、相干性和干涉性，当两列或多列光波在空间某区域叠加时，它们会产生干涉现象，这些光波可以是相干光波或非相干光波，相干光波的干涉效果更佳，干涉仪通过产生一系列明暗相间的条纹，并利用这些条纹的变化来测量某些物理量，如长度、折射率等。
在具体的工作过程中，干涉仪通常包括光源、干涉系统以及观察和记录系统，光源发出光束，经过干涉系统的处理（如分束、反射、再组合等），形成干涉条纹，这些条纹被观察和记录系统捕捉并转化为可分析的数据，不同类型的干涉仪可能会有不同的干涉系统和测量方法，但它们的核心原理都是利用光的干涉现象来获取信息。
在测量长度时，可以使用基于干涉原理的激光干涉仪，它通过激光束的干涉条纹来精确测量物体的位移或长度，这种干涉仪具有高精度和高分辨率的特点，广泛应用于科研、精密制造和质量控制等领域。
干涉仪的工作过程与原理紧密相关，都是基于光的波动性和干涉现象来进行精确测量和信息获取，不同类型的干涉仪可能会有不同的具体实现方式和应用领域，但其基本原理都是相同的。